如何確保您的手持XRF工作正常 發布日期:2022-01-13 16:42:46 文章來源:萊雷科技
XRF分析儀是一種精密儀器,在其使用期內–從您完成常規檢查到制造商年檢都需要小心使用。這是您確保XRF提供正確結果所需的必要工作。
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常規儀器檢查 常規儀器檢查由操作員按照制造商建議的時間間隔進行。此類檢查會監測儀器的內部性能,如X射線探測器強度、探測器分辨率和探測器增益。如果發現細微變化,儀器會自動進行調整。而如果變化超出預期,您的分析儀會發出警報,此時需要聯系制造商。遵守制造商建議的檢查間隔是很重要的——如果時間間隔太長,就會錯失發現細微變化的時機,如果時間間隔太短,分析儀可能會過度矯正,因此也可能帶來錯誤。
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校準 進行常規儀器檢查之后,在使用XRF分析儀進行質量控制之前,您需要驗證您的校準。您可以使用已知的生產零件或參考樣(也稱為標準樣)。重要的是,此類參考樣須從經認證的供應商處購買,最好定期由ISO17025認可實驗室對其進行重新認證。
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儀器認證 作為儀器年檢的一部分,建議您讓原始制造商對您的XRF分析儀進行重新認證,確保敏感部件正常工作。這通常由專業工程師進行,其將進行全面診斷并提出相應建議。可能導致誤差的分析
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即使使用設置完美的儀器,在進行測量時,還會有其他因素可能導致錯誤。
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未履行樣品對焦 確保樣品被正確對焦是測量過程中的一個關鍵步驟。確保X射線管、樣品和探測器彼此之間的距離固定,這對于準確的鍍層厚度結果至關重要。如果X射線管、樣品和探測器彼此之間的距離太大,則鍍層會變薄,反之亦然。如果您要測量多層鍍層,錯誤就會疊加。
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基底變化 基底內的其他元素會干擾鍍層間的X射線相互作用。這意味著產生的X射線信號與正確的鍍層厚度無法關聯。好在目前這種影響已被充分認識理解,所以如果您使用與您的實際基底非常相似的材料進行校準,則可補償這種影響。本質上,您的基底材料需與您的校準參考樣非常相似。
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超出校準范圍的測量 您儀器的校準是針對有限范圍內的鍍層厚度和成分進行優化。在較大范圍內,鍍層厚度和X射線強度之間的關系不是線性的,因此您不能保證在儀器校準范圍之外也獲得可靠的結果。您的XRF制造商能夠告訴您校準的測試極限,并且您也可以在軟件上設置警告,如果測量值超出“安全”范圍,就會提醒操作員,如此您可以確保始終在校準極限范圍內進行測量
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