金屬鍍層測厚儀的具體分類 發布日期：2022-10-26 11:51:44 文章來源：萊雷科技
測厚儀有很多種類，測厚原理的方法也是不同的，為了方便運用合適的側厚原理方法，接下來小編說說金屬鍍層測厚儀測量原理的幾種類型。金屬鍍層測厚儀采用電磁感應法測量涂層的厚度。位于部件表面的探頭產生一個閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以很好地測量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂層厚度。
金屬鍍層測厚儀中主要有兩種類型的探測器：比例計數器和基于半導體的探測器，如SDD探測器。上述兩種探測器都具有自身的優點，可按照具體需求加以選擇。比例計數器：此類探測器是充裝惰性氣體的金屬桶柱，當其受到X射線照射時會發生電離。電離氣體會產生與吸收的能量成正比的信號。它們應用于最早期的鍍層分析儀，且至今仍得到廣泛應用。
金屬鍍層測厚儀比例計數器硅漂移探測器：存在多種不同的半導體探測器，但我們會考慮使用硅漂移探測器或SDD，因為它是最常見的一種探測器。當SDD受到X射線照射時，探測器材料發生電離，產生一定數量的電荷。電荷量與樣品中的元素含量相關。
金屬鍍層測厚儀硅漂移探測器本質上而言，鍍層測厚儀比例計數器（PC）對于元素種類很少的簡單分析而言非常有效。它們可以提高錫或銀等高能量元素的靈敏度，尤其是使用小型準直器測量時，而SDD則更適合用于磷。比例計數器的成本低于SDD型的成本。但SDD可提供更好的分辨率——即測量譜圖會更清晰。如果樣品中存在幾個元素，則這一特點更顯得非常重要。
